【摘 要】 目的 探讨氟化钠联合半导体激光治疗年轻恒牙龋充填的疗效。方法 选择恒牙龋患儿63例，参加实验的每例患儿在同一次就诊中完成2颗同颌同名龋损牙的治疗，一侧牙为氟化钠联合半导体激光治疗后充填组（A组），另一侧牙采用传统充填为对照组（B组）。观察治疗中及充填术后有无意外穿髓；充填后1年复查，有无充填体松动脱落、继发龋及并发症等。结果 A组充填体松动脱落、继发龋、并发症明显少于B组，差异有统计学意义（P<0.05）。结论 氟化钠联合半导体激光治疗年轻恒牙龋充填疗效可靠。